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圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問量：734
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問量：759
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問量：711
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：774
YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1435
YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：730
YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：757
YP-250I半導體行業用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：787
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：765
YP-250I高照度鹵素強光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：849
YP-150I鹵素強光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：2702
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學測量儀
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：1651
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學測量儀
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：776
