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日本bunkoukeiki單色儀M10 光學測量儀

訪問次數:827

更新日期:2024-03-24

簡要描述:

日本bunkoukeiki單色儀M10
分辨率為 1.0 nm(1200 線/毫米),波長精度為 ±1.0 nm,具有同類產品中最佳的性能。

日本bunkoukeiki單色儀M10 光學測量儀
品牌其他品牌產品種類臺式
數顯功能溫控功能
產地進口

日本bunkoukeiki單色儀M10

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緊湊、輕便、明亮的高分辨率單色儀,焦距為 100mm。

特征

  • 分辨率為 1.0 nm(1200 線/毫米),波長精度為 ±1.0 nm,具有同類產品中最佳的性能。

 

  • 由于衍射光柵可以更換,因此可以在200 nm至25 μm的寬波長范圍內使用,并且更換安裝再現性也良好。

 

  • 光學系統采用寬有效面積的衍射光柵,F=3.0時明亮,像差小。

 

  • 機構和操作簡單且堅固,因此耐沖擊和振動,并且狹縫機構幾乎沒有間隙,因此可以進行高精度測量。

 

  • 由于入口狹縫和出口狹縫布置在相對側,因此很容易組合其他光學系統和特殊附件,并且可以創建滿足預期用途的分光系統。

 

  • 通過安裝步進電機波長驅動器(選件),可以通過外部脈沖信號或GP-IB進行控制。

 

  • 由于同時發射波長范圍較寬,可以安裝多通道檢測器(選件)。

 

  • 結構緊湊、重量輕,不占用大量安裝空間。它也很容易攜帶。

 日本bunkoukeiki單色儀M10

規格(使用1200線/mm衍射光柵時)

 

 光學系統非對稱改良 Zernii-Turner 安裝系統 
 焦距 100毫米
 孔徑比 F=3.0
 衍射光柵 標線有效面積28×28mm
 光波長范圍 200-1400nm  
 機械波長范圍      0-1400nm 
 解決 1.0nm(半寬)
 波長掃描法 正弦桿機構/波長線性掃描
 波長驅動方式 步進電機驅動
 波長精度 ±1.0nm(從正向設定)
 波長顯示 計數器顯示最小1nm,最小刻度0.2nm
 波長重現性 ±0.5nm(從正向設定)
 雜散光 1×10 -3以下( λ 0 ±10 nm ,λ 0 =546.1 nm )
 輸入/輸出狹縫 寬度:0至4毫米(雙開口對稱連續變量/最小刻度讀數0.01毫米)
 篩選 手動滑動方式(最多可安裝6種)*UV/IR選項

 

 

 

標準配置

●本體(不含衍射光柵)
●可見光濾光片(L-37?R-64)
●滑動濾光片支架
●滑動高度V型光圈
●使用說明書

 

衍射光柵陣容

 

 雕刻線數閃耀波長 倒數方差 

1800線/毫米

 250、400、500 納米

 5納米/毫米

1200線/毫米

 200,300,400,500,750nm,1.0μm

 8納米/毫米

600線/毫米

 200、300、500、750nm、1.0、1.6μm

16納米/毫米 

400線/毫米 

 400,550,850nm,1.6μm 

24納米/毫米 

300線/毫米

 300,500nm,1.0,2.0,3.0,4.0μm

32納米/毫米

150線/毫米 

 300,500,800nm,1.25,2.0,3.0,4.0,6.0,8.0μm 

64納米/毫米 

120線/毫米

 3.75、8.3μm

80納米/毫米

60線/毫米

 16微米 

160納米/毫米

 

*光柵是可選的。請定一個。 
  如需其他衍射光柵,請聯系我們。
*倒數色散隨波長而變化。



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