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更新日期:2024-03-18
簡要描述:
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731憑借出色的可操作性,即使對于大型板,也可以以z高的精度測量極小的零件。
類型 | 數字式 | 測量范圍 | 1 |
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日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731
憑借出色的可操作性,
即使對于大型板,也可以以z高的精度測量極小的零件。
-采用雙重過濾器,可實現z高精度和z佳條件
的測量
-通過將鼠標移至測量位置來實現快速對準-多任務功能可進行其他處理,甚至在測量過程中也可創建報告-
z小準直儀為0.05φmm,可以測量非常小的零件
采用雙重過濾器
通過使用除中性過濾器之外的機械過濾器(雙重過濾器),可以在z佳條件下進行測量,從而始終獲得z高的精度。
自動測量階段
通過將鼠標對準測量位置實現快速對準。另外,如果注冊測量位置,則可以進行連續自動測量。通過坐標校正和通道鏈接支持各種模式。標準板校準也可以自動測量。
增強的報告創建功能
通過采用MS-Windows軟件,您可以輕松捕獲測量屏幕并增強報告創建功能。使用多任務功能,即使在測量過程中,也可以進行包括報告創建在內的其他處理。
內置5種準直儀
z小準直儀為0.1φmm,可測量極小的零件。標準0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外,有兩種特殊規格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護功能
自診斷功能可以迅速解決設備問題。另外,增加了X射線管的使用時間和耐用時間顯示功能,以確保維護安全。
膜厚測量中的頻譜顯示
多通道光譜分析高速處理使簡單的操作可以顯示被測物體的光譜。(處理速度約2至3秒)
顯示測量單元監控圖像
將X射線照射部件導入Windows屏幕并顯示X射線照射部件。準直儀實現改變尺寸的放大率改變功能。
可視化顯示被測物的鍍層附著力分布
三維圖形顯示使查看被測物的鍍層厚度分布變得容易。
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731
類型 | 手動階段 | 自動舞臺 | ||
測量頭 | 尺寸(毫米) | 170 x 110 | 300 x 280 | |
運動量 | X(毫米) | 70 | 80 | |
Y(毫米) | 70 | 60 | ||
Z(毫米) | 80(z大被測物高度150) | 50 | ||
被測物體高度(z大) | 80(選項150) | 50 | ||
尺寸(毫米) | 600(寬)x 465(深)x 730(高) | |||
重量(公斤) | 79 | 85 | ||
樣品負荷(公斤) | 3 | 2 | ||
電腦 | 尺寸(毫米) | 主機182(W)x 383(D)x 372(H) | ||
重量(公斤) | 主機6.8 /顯示器2.8 | |||
打印機 | 重量(公斤) | 3.4 3.4 | ||
電源供應 | AC100V±10V |