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更新日期：2024-03-18
簡要描述：
日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D適用于 B，C，D，F，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
| 品牌 | 其他品牌 |
|---|
日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D
適用?于 B，C，D，F，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
超高精度：分辨率10ppm，基本精度±0.005％
通過靜態功率抵消測量實現高精度和高穩定性
由于從模擬到數字的隔離而提高了抗噪聲能力，因此具有很高的穩定性
通過對每個范圍進行測量值積分時間設置功能，實現超高速和高穩定性測量
值測量：0.00mΩ?125.00MΩ
％測量：5mΩ?109mΩ[±10.000％/-99.99?+ 25.00％]
接觸檢查：測量前/測量后/ OFF
RS-232C接口標準設備（GP-IB是可選的）
打印機輸出標準設備（與Centronics兼容）
設置值傳送功能作為標準設備：（相同的設置數據可以傳送到另一臺AE-163D并自動設置）
測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設備
配備測量探頭自動清潔電路
校準后90天[校準后1年：兩倍]的測量范圍和基本精度（環境溫度23°C±5°C）
日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D
| 測量范圍 | 標準值設定范圍 | 實測電流 | 測量精度* | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 慢[高分辨率] | 快速[LO-Resco。] | 快速[Lo-Resco。] | |||
| 100毫歐 | 5mΩ-100mΩ | 180毫安 | ±0.01％±α±10d以內 | 在±0.02％±α±2d之內 | ≤±0.03％±2α±3d±[2 /（1 + n）] d |
| 1Ω | 100.1mΩ?1Ω | 180毫安 | 在±0.005％±α±3d之內 | ±0.02％±α±1d以內 | ≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d |
| 10Ω | 1.001Ω?10Ω | 90毫安 | |||
| 100Ω | 10.01Ω-100Ω | 18毫安 | ±0.005％±1d以內 | ±0.02％±1d以內 | 在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內 |
| 1kΩ | 100.1Ω?1kΩ | 9毫安 | |||
| 10kΩ的 | 1.001kΩ?10kΩ | 0.9毫安 | |||
| 100kΩ的 | 10.01kΩ-100kΩ | 90微安 | |||
| 1兆歐 | 100.1kΩ?1MΩ | 9微安 | ±0.007％±1d以內 | 在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內 | |
| 10兆歐 | 1.001MΩ?10MΩ | 0.9微安 | ±0.02％±10d以內 | ±0.03％±1d以內 | 在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內 |
| 100兆歐 | 10.01MΩ-100MΩ | 0.09微安 | ±0.1％±20d以內 | ±0.1％±2d以內 | --- |
* D =數字，n =積分時間（毫秒），使用Lo-Reso測量值
％時測量：α=（100 /標準設定值mΩ）x 0.01％，測量值時： α= 0（加±1d）
**屏蔽狀態下的精度
| 測量時間 | 外部啟動 | 自由奔跑 | ||
|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速 | 慢 | 快速 | |
| 大約24毫秒-400毫秒 | 大約11毫秒-400毫秒 | 約5次/秒? 約2次/秒 | 約10次/秒? 約2次/秒 | |
| 測量端子開路電壓 | 15V以下 |
|---|---|
| 測量結束信號（EOC）脈沖寬度 | 1到250毫秒，并且可以連續設置 |
| 測量方式 | 4端子測量/ 2端子測量可切換 |
| 判斷值設定范圍 | 測量％：±10.000％/-99.99%?+ 25.00％ |
| 值測量：00000-12500 | |
| 周邊環境 | 溫度：0°C至+ 50°C，濕度：80％以下 |
| 需要電源 | AC85V?265V，50Hz?60Hz，約50VA |
| 外形尺寸 | 333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起） |
| 重量 | 約3kg |
| 選項 | ? GP-IB |
|---|---|
| ?數據傳輸線 | |
| ?短接（零歐姆標準電阻） | |
| ? 3P x 2→5P轉換適配器（AEA-35） |
*規格如有變更，恕不另行通知。
