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更新日期:2024-03-17
簡要描述:
日本microsq用于磁粉探傷儀LED黑光UVT300它有助于用戶靈活的設計,例如根據檢查目標創建具有多個單元的照射區域。它也被主要的國內汽車用戶用于各種零件檢查。
類型 | 無損傷 |
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日本microsq用于磁粉探傷儀LED黑光UVT300
它有助于用戶靈活的設計,例如根據檢查目標創建具有多個單元的照射區域。它也被主要的國內汽車用戶用于各種零件檢查。
WD380毫米
照明分布直徑300毫米40004000500040004000
WD600毫米
照明分布直徑300毫米20002000200020002000