Profilm3D 3D 表面形狀測量系統使用示例
它是一個使用白光干涉技術的系統,可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內的三維形狀。
Profilm 3D 適用于測量小樣品,涵蓋了測量 3D 形狀所需的所有功能,并且比傳統產品更緊湊、更便宜。
各種測量模式,包括適合高精度測量微米級臺階和形狀的垂直掃描干涉測量法 (WLI) 和適合測量納米級形狀和粗糙度的相移干涉測量法 (PSI)。包括標準步驟樣品在內的一切都是標準設備,包括用于放大物鏡的左輪、自動載物臺以及便于操作、分析和管理測量數據的軟件。
低價!
在配備所有必要功能的同時實現低價
納米級高分辨率
采用相移干涉法實現高分辨率
全標準設備
XY自動載物臺,手動左輪,自動光強調節,自動對焦功能
緊湊的外殼
主體的占地面積為 30 x 30 cm 的緊湊設計。
配備 WLI 和 PSI 兩種測量模式 一臺設備即可
測量臺階測量和粗糙度測量
操作
簡單 基本操作只是簡單的鼠標操作
符合 ISO 標準的粗糙度測量符合
標準 ISO25178
可擴展性
多種物鏡選擇,數據拼接功能
半導體 | 晶圓凸塊、CMP焊盤等 |
---|---|
醫療領域 | 注射針、人工關節、支架等 |
安裝板 | 銅線、凸點、透鏡等 |
垂直掃描白光干涉測量法 (WLI) | 相移干涉測量 (PSI) | |
---|---|---|
測量范圍 | 50 納米 – 10 毫米 | 0 – 3 微米 |
準確性 | 0.7% | —— |
再現性 | 0.1% | —— |
反射范圍 | 0.05% – 99% | 0.05% – 99% |
XY自動載物臺 | 100mm x 100mm |
---|---|
Z軸驅動范圍 | 100mm |
壓電驅動范圍 | 500微米 |
掃描速度 | 12微米/秒 |
相機 | 2592 x 1944(500 萬像素) |
體重 | 15公斤 |
5次 | 10倍 | 20次 | 50次 | 百倍 | |
視野 | 4.0 x 3.4 毫米 | 2.0 x 1.7 毫米 | 1.0 x 0.85mm | 0.4 x 0.34mm | 0.2 x 0.17mm |
鏡頭分辨率 | 2.1微米 | 0.92微米 | 0.69 微米 | 0.5微米 | 0.4微米 |
湊、更便宜。