日本NCC可實現零灰塵和異物缺陷可視化照明燈“ ZEUS”

發布日期：2021-03-15      瀏覽次數：961

日本NCC可實現零灰塵和異物缺陷可視化照明燈“ ZEUS”



 

缺陷的原因很容易被隱藏。

為什么灰塵和異物導致的缺陷沒有減少？這是因為10μm至100μm的灰塵，污垢和稱為“粗顆粒”的異物會受到重力影響，并積聚在制造場所的每個部位（墻壁，地板，工作臺，產品表面）。

但是在大多數情況下，人眼看不見它。

因此，它是一種“可視化技術”，它利用光的直線度使不可見的粗顆粒可見，并且在識別發生位置，管理站點和提高站點意識方面起著主要作用。

 ZEUS可以說是極zhi的直線度，擁有迄今為止NCC一直堅持使用的可視化燈的所有技術和知識，并為您未來一直希望保持在附近的燈提供了新的光輝，從而提高了未來的制造質量。并始終使用。

 

什么是追求粗顆?？梢暬?ldquo;下一代通用燈”？



傳統的使用反射鏡的聚光方法由于光線不均勻而缺乏可見性，但是新構思的多透鏡方法可以*地提高光的直線度，并可以清除幾米外的灰塵和異物。另一個主要特點是可以從燈的前面看到漂浮的灰塵和氣流。這是適用于可視化產品和設備（包括環境）中的粗顆粒的下一代模型的誕生。

[與常規鏡頭比較（照射前3m）]

 

配備多透鏡，光線像聚光燈一樣均勻地輻射。它是一種通用類型，可以用于任何物體或位置，并且可以比以往更有效地可視化懸浮粒子和附著的粒子。

特殊長度

• 通過照射均勻的光可以有效地使用
• 可根據應用使用的可拆卸綠色鏡片
• 輕松查看高處和深處的設備
• 非常適合更換HID燈
• 無需更換電池即可用于長期檢查

用法

• 檢查制造設備的清潔度
• 浮塵可視化
• 通過可視化改革和提高現場意識
• 在制造前后檢查清潔狀況
• 識別粉塵產生源（現場調查）
• 可視化附著在高處和設備背面的灰塵