粒子可視化系統 PV2 系列在感光材料和半導體中異物檢測上的運用

發布日期：2024-09-21      瀏覽次數：102

粒子可視化系統 PV2 系列在感光材料和半導體中異物檢測上的運用

可視化低至 0.1 微米的顆粒

 

解決異物問題的新解決方案
將顆粒產生、懸浮、沉積和重新散射的過程可視化，大大提高了提高清潔度的工作效率。即使在明亮的環境中，紅色激光光源也可以讓您捕捉和拍攝粒子圖像。業內最小、最輕，高度便攜，可安裝在任何地方。這將改善存在異物問題的環境。



 

一目了然了解工作環境中的細顆粒物符合ISO14644-17



潔凈服上的灰塵



衣服上的灰塵



空氣凈化器

可視化示例｜可視化 FFU 中 0.3 微米的落塵

借助粒子查看器 PV2 系列，您將不會錯過任何粒子過程。評估從粉塵產生到懸浮、沉積和再夾帶的非接觸區域，并可視化每個過程。

工作環境中懸浮的顆粒物有多少？異物從哪里來？另外，灰塵的來源在哪里？可以采取適當的改進措施。通過提高清潔度來提高工作效率，創造更好的工作環境。

活躍于各個領域粒子可視化技術的應用

管理潔凈室中的顆粒物

實時可視化潔凈室中顆粒物的產生和懸浮情況，使管理人員能夠保持潔凈度。這使我們能夠維持安全的工作環境并確保產品質量。

 

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感光材料和半導體中的異物對策



通過檢測感光材料和半導體制造過程中產生的細小顆粒，可以采取措施防止異物附著。有助于提高制造質量和生產效率。

電動汽車電池質量控制

實時檢測電動汽車電池制造過程中的顆粒污染?？梢约訌娰|量控制并保持產品性能和安全。

提高噴漆室效率

可視化噴漆室中的細顆粒有助于提高噴漆產量。它提高了工作效率并有助于資源的有效利用。

使用實時圖像處理清晰地顯示細顆粒



通過（無圖像處理）



圖像處理“軌跡”



圖像處理“重點”



以假色顯示

實時圖像處理技術實現超高靈敏度可視化。它清晰地顯示了難以看到的細小顆粒。通過在“通過”、“軌跡”和“強調” 3種模式之間切換，可以根據現象實現最佳可視化。此外，通過偽彩色顯示，您可以更輕松地了解漂浮粒子的行為。圖像處理細節和相機設置可以作為文件保存和加載，從而可以輕松根據拍攝模式執行一致的處理。

計數漂浮顆粒（測量功能）



粒子查看器PV2系列軟件啟動屏幕

計算圖像中的粒子數量并與時間序列圖同步播放

作為離線測量功能，您可以計算圖像中的顆粒數量。計數的粒子可以顯示在時間序列圖中，并與現象視頻同步回放。您可以輕松分析灰塵產生的時間。

粒子可視化系統的特點特點/功能

以超高靈敏度可視化細顆粒
我們開發了實時圖像處理技術，可實現細顆粒的超高靈敏度可視化。

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追求可用性和功能性
支持各種環境下的顆粒測量。它是一款集可用性和功能性于一體的產品。

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非接觸式面積評估
可以非接觸式進行面積評估。集中管理從顆粒產生到懸浮、沉積和再分散的每個過程。

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采用紅色激光光源
我們是第一個使用紅色激光光源的公司，該光源可以可靠地拍攝漂浮顆粒，而不會融入背景。

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時間序列粒子數計數
對離線測量拍攝的圖像中的粒子數進行計數，并將其顯示在時間序列圖中?？梢暬覊m產生的時間。

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氣流評估功能
還可以對漂浮顆粒進行定性氣流評估。