非接觸式熱物性(熱擴散率)測量裝置 TA35型的原理分析
熱物性測量裝置 熱波分析儀
TA35型
[特點]
?非接觸式測量,不受接觸(熱)電阻的影響
?測量范圍寬~從有機薄膜到金剛石?
?單個裝置可測量水平(XY)和垂直(Z)方向
?垂直(Z ))方向映射測量
(1) 周期性加熱源 (P0eiωt) 以熱擴散率 α 對樣品表面進行點加熱
(2) 加熱點溫度的交流分量表示為 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加熱源。 (P0eiωt) 置于周圍區域,激發溫度傳播可以用以下公式表示。
(4) c:單位體積比熱容,?:距點熱源的距離
k 為溫度波的波數,用下式表示:
(5) 式中μ為熱擴散長度。因此,相位變為以下等式。
熱波分析儀 TA 可滿足客戶開發現場的需求。
由于無需將測量樣品的形狀與設備相匹配,因此可以顯著減少樣品制備的工作量和成本。
垂直測量/水平測量
<應用>
電子元件散熱材料的評價
半導體激光電極的評價
發熱材料的評價
硬質合金工具涂層的評價等
你了解各向異性嗎?樹脂與各種填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的復合材料的熱導率
根據混合比例的不同而發生很大變化,因此測量熱擴散率非常重要。
該設備可以對同一工件和樣品同時進行三個方向(X、Y和Z)的連續測量,非常適合測量想要了解各向異性的樣品。 可用于
測量電子電路中使用的散熱片、碳纖維增強樹脂、高熱電樹脂、聚酰亞胺片等各種樣品。
測量目標 測量結果
層壓材料是由具有不同導熱系數的材料分層制成的,因此預計傳熱將根據粘合的均勻性而發生很大變化。
然而,傳統上精確測量層壓材料的導熱率極其困難,這使其成為開發過程中的問題之一。
該裝置連續獲取并繪制垂直相位延遲,從而可以相對評估層壓材料的熱傳導。
它不僅適用于材料熱物理性質的相對評估,而且適用于檢查零件的缺陷和檢查均勻性。
測量目標 測量結果
熱導率分布評價(定性值) *可以將熱導率的均勻程度繪制成圖表。