X 射線熒光分析原理及特點
當樣品被初級 X 射線照射時,電子被 X 射線的能量翻轉,原子被激發。外層電子落到那里,發射出與能量差相對應的熒光X射線。定性分析是可能的,因為此時產生的熒光 X 射線具有元素有的能量。也可以從熒光 X 射線的強度進行定量分析。
無損分析
易于測量
快速測量結果
易于預處理
可以進行廣泛的元素分析
不受化學狀態影響
可進行現場分析
分析過程中不會破壞樣品
預處理和測量很容易,任何人都可以進行分析。
快速測量結果降低分析成本
能夠在寬濃度范圍內進行定量和定性分析
可以進行廣泛的元素分析
不受化學狀態影響
環保,因為不使用任何化學物質
運用示例
土壤中的重元素分析
焚燒灰、工業廢物、廢水、粉塵、電鍍液、污泥
RPF、礫石、爐渣等的分析
電子元件中有害重金屬的測量
半導體和磁盤的薄膜厚度測量
電極多層厚度和結構分析
電子零件鍍層厚度和結構的分解
礦石勘探
粘土礦物、土壤、巖石和回收材料的分析
分析果樹和煙草等植物的葉子
鋼鐵、有色金屬
冶煉渣分析
焊錫、貴金屬、合金、有色金屬的主要成分雜質分析
催化劑和涂料的分析
重油中 S、V 和重金屬的分析
潤滑油中添加元素分析
顏料和防銹劑的成分分析
醫藥原料、中間產品、成品分析
材料/零件材料的判別分析
表面處理劑分析
表面膜厚測量
埋藏文物和黑曜石的 Sr/Rb 分析
評估珠寶、繪畫和藝術品
貴金屬配件分析
探索機場和海關
法醫判斷分析
食品中異物及添加劑分析
食品容器的雜質分析
陶瓷、水泥、玻璃和油漆的成分分析
打印機彩色墨水的管理與分析
塑料中的硅分析
磚和粘土的分析
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